一、高低溫沖擊試驗(yàn)箱的用途 ：用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件。
二、高低溫沖擊試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：
1. GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；
2. GB/T 2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；
3. GB/T2423.22-2002 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Na；
4. GJB 150.3-1986   高溫試驗(yàn)；
5. GJB 150.4-1986   低溫試驗(yàn)；
6. GJB 150.5-1986   溫度沖擊試驗(yàn)等；
三、主要性能參數(shù)：

50L（W45×H35×D36)cm            整機(jī)尺寸:：(W156×H175×D133)cm
80L(W50×H40×D40)cm              整機(jī)尺寸:(W179×H184×D145)cm
100L(W50×H50×D40)cm            整機(jī)尺寸:(W189×H194×D156)cm
150L(W50×H60×D50)cm            整機(jī)尺寸:(W200×H212×D175)cm
1、 試驗(yàn)槽溫度范圍：
-40℃～+150℃；
-55℃～+150℃；
-65℃～+150℃；
2 、低溫槽溫度范圍：-65℃～-10℃；
3、 高溫槽溫度設(shè)定范圍: +60℃～+200℃；
4、 高溫槽升溫速度: 全程平均5℃/MIN
5、 低溫槽降溫速度:全程平均1.5℃/MIN
6、  溫度波動(dòng)度: ±0.5℃
7、  溫度偏差:   ±2.0℃
8、  溫度恢復(fù)時(shí)間: ≤5分鐘
9、  高低溫暴露時(shí)間: 30MIN以上
10、 內(nèi)箱材質(zhì):鏡面不銹鋼板(SUS #304)
11、 外箱材質(zhì): 拉絲不銹鋼板
12、 試樣擱架承載能力: 30KG
13、 樣品重量: ≤10KG
14、 保溫材質(zhì):
(1) 高溫槽: 24k玻璃棉            
(2) 低溫槽: 聚胺脂硬質(zhì)發(fā)泡+玻璃棉
15、 加熱器: 鰭片式散熱管鎳鉻合金U型高效加熱器，自動(dòng)演算高**度PID+SSR控制（演算周期：1～4S可設(shè)），使其熱損耗量與加熱量相當(dāng)，故比傳統(tǒng)ON/OFF控制省電約30%；
16、 送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng): 臺(tái)制馬達(dá)2臺(tái)，附不銹鋼加長軸心；多翼式扇葉(SIROCCO FAN)；臺(tái)制離心排風(fēng)機(jī)一臺(tái)。
17、 溫度沖擊執(zhí)行機(jī)構(gòu): 采用日本SMC全套原裝進(jìn)口氣動(dòng)組件。
四、**裝置：
1 、超溫保護(hù)裝置。
2、 防空焚保護(hù)裝置。
3 、電源欠逆相保護(hù)器。
4 、壓縮機(jī)過熱保護(hù)開關(guān)。
5、壓縮機(jī)高低壓保護(hù)開關(guān)。
6 壓縮機(jī)過電流保護(hù)開關(guān)。
7氣源低壓保護(hù)開關(guān)。
8無熔絲開關(guān)。
9 蜂鳴器。
10陶瓷快速保險(xiǎn)絲。
11線路保險(xiǎn)絲及全護(hù)套式端子。在此也順便提一些有關(guān)于高低溫沖擊試驗(yàn)箱的操作流程一般來說，高低溫沖擊試驗(yàn)箱操作分為五部走：預(yù)處理、初始檢測(cè)、試驗(yàn)、恢復(fù)、*后檢測(cè)。
1.預(yù)處理：將被測(cè)樣品放置在正常的試驗(yàn)大氣條件下，直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。
2.初始檢測(cè)：將被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)照，符合要求后直接放入高低溫沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)即可。
3.試驗(yàn)：
1)試驗(yàn)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi),并將試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度升到指定點(diǎn)，保持一定的時(shí)間至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。

2)高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。
3)低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。
4)重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法,以完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時(shí)間可能會(huì)略有誤差。
4. 恢復(fù)：試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。
5.*后檢測(cè)：對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測(cè)結(jié)果評(píng)定。